Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors. - Russo, F.; Moccia, G.; Nardone, G.; Alfonsetti, R.; Polsinelli, G.; D’Angelo, A.; Patacchiola, A.; Liverani, M.; Pianezza, P.; Lippa, T.; Carlini, M.; Polignano, M.L.; et al. (Solid-State Electronics, 2014)