Miller, B., & s, b. (2026). Ganzheitliche Tests für KI-Netzwerk-Komponenten. Elektronik Industrie, 1/2, 12.
Chicago Style (17th ed.) CitationMiller, Ben, and b. s. "Ganzheitliche Tests Für KI-Netzwerk-Komponenten." Elektronik Industrie 1/2 (2026): 12.
MLA (9th ed.) CitationMiller, Ben, and b. s. "Ganzheitliche Tests Für KI-Netzwerk-Komponenten." Elektronik Industrie, 1/2, 2026, p. 12.
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