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Surface acoustic wave characterization of optical sol-gel thin layers.

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Title: Surface acoustic wave characterization of optical sol-gel thin layers.
Authors: Fall D; IEMN-DOAE (UMR CNRS 8520), Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Département d'Opto-Acousto-Electronique, Université de Valenciennes, 59313 Valenciennes, France., Compoint F; CEA, DAM, Le Ripault, F-37260 Monts, France., Duquennoy M; IEMN-DOAE (UMR CNRS 8520), Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Département d'Opto-Acousto-Electronique, Université de Valenciennes, 59313 Valenciennes, France., Piombini H; CEA, DAM, Le Ripault, F-37260 Monts, France., Ouaftouh M; IEMN-DOAE (UMR CNRS 8520), Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Département d'Opto-Acousto-Electronique, Université de Valenciennes, 59313 Valenciennes, France., Jenot F; IEMN-DOAE (UMR CNRS 8520), Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Département d'Opto-Acousto-Electronique, Université de Valenciennes, 59313 Valenciennes, France., Piwakowski B; IEMN-DOAE (UMR CNRS 8520), Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie, Département d'Opto-Acousto-Electronique, Université de Valenciennes, 59313 Valenciennes, France., Belleville P; CEA, DAM, Le Ripault, F-37260 Monts, France., Ambard C; CEA, DAM, Le Ripault, F-37260 Monts, France.
Source: Ultrasonics [Ultrasonics] 2016 May; Vol. 68, pp. 102-7. Date of Electronic Publication: 2016 Feb 13.
Publication Type: Journal Article
Journal Info: Publisher: Elsevier Science Country of Publication: Netherlands NLM ID: 0050452 Publication Model: Print-Electronic Cited Medium: Internet ISSN: 1874-9968 (Electronic) Linking ISSN: 0041624X NLM ISO Abbreviation: Ultrasonics Subsets: PubMed not MEDLINE
Database: MEDLINE Ultimate
Description
ISSN:1874-9968
DOI:10.1016/j.ultras.2016.02.006