Strained 2D Semiconductor Lateral Heterojunctions via Grayscale Thermal-Scanning Probe Lithography.
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| Title: | Strained 2D Semiconductor Lateral Heterojunctions via Grayscale Thermal-Scanning Probe Lithography. |
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| Authors: | Zambito G; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy., Ferrando G; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy., Barelli M; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy., Ceccardi M; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy.; CNR-SPIN Corso Perrone 24 16152 Genova Italy., Caglieris F; CNR-SPIN Corso Perrone 24 16152 Genova Italy., Marrè D; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy., Bisio F; CNR-SPIN Corso Perrone 24 16152 Genova Italy., Buatier de Mongeot F; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy., Giordano MC; Dipartimento di Fisica Università di Genova Via Dodecaneso 33 16146 Genova Italy. |
| Source: | Small science [Small Sci] 2026 Jan 12; Vol. 6 (2), pp. e202500404. Date of Electronic Publication: 2026 Jan 12 (Print Publication: 2026). |
| Publication Type: | Journal Article |
| Journal Info: | Publisher: Wiley-VCH GmbH Country of Publication: Germany NLM ID: 101777709 Publication Model: eCollection Cited Medium: Internet ISSN: 2688-4046 (Electronic) Linking ISSN: 26884046 NLM ISO Abbreviation: Small Sci Subsets: PubMed not MEDLINE |
| Database: | MEDLINE Ultimate |
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