rdf-syntax-grammar
mods:
  schema location: http://www.loc.gov/mods/v3 http://www.loc.gov/standards/mods/v3/mods-3-2.xsd
  title info:
    title: Monitor
    sub title: medición con indicadores para una alta productividad
  name:
    name part: Yepes Callejas, Edgar René
    role:
      role term: creator
  name:
    name part: Echavarría Escobar, Santiago
  type of resource: text
  origin info:
    place:
      place term: ck^
    place:
      place term: Medellín
    publisher: Centro de Ciencia y Tecnología de Antioquia
    date issued: 2008
    issuance: monographic
  language:
    language term: spa
  physical description:
    extent: 72 páginas ; 24 cm.
  table of contents: Antecedentes de monitor -- Qué es monitor -- Aplicación de monitor -- Compromiso y participación de la dirección -- Mejoramiento continuo como fundamento -- Orientación a planear la mejora de la productividad -- Cálculo del VA (Valor Agregado)
  target audience: specialized
  note: Edgar René Yepes Callejas, Santiago Echavarría Escobar.
  subject:
    topic: Productividad industrial
  subject:
    topic: Administración industrial
  subject:
    topic: Administración
    topic: Toma de decisiones
  subject:
    topic: Cambio organizacional
  classification: 658.5 Y471m
  identifier: 9789589814048
  record info:
    record content source: CO-BoSNA
    record creation date: 120223
    record change date: 20260706134136.0
    record identifier: 000055204
    language of cataloging:
      language term: spa