Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo sucuencial determinados por nivel aceptable de calidad (NAC) para inspección lote por lote.

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Bibliographic Details
Corporate Author:	004 APLICACIÓN DE MÉTODOS ESTADÍSTICOS
Format:	Book
Language:	Undetermined
Subjects:	CIENCIA Y TECNOLOGÍA E INNOVACIÓN
Online Access:	https://login.bdigital.sena.edu.co/login?url=https://ecollection.icontec.org/colacc.aspx?Q=4A5495A18C9FA17194F13CCACBF02A1D

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