Messungen an μm‐Proben – ein alternativer Weg zur Untersuchung intrinsischer Eigenschaften von Festkörper‐Materialien am Beispiel des Halbleiters TaGeIr.
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| Title: | Messungen an μm‐Proben – ein alternativer Weg zur Untersuchung intrinsischer Eigenschaften von Festkörper‐Materialien am Beispiel des Halbleiters TaGeIr. |
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| Authors: | Antonyshyn, I.1, Wagner, F. R.1, Bobnar, M.1, Sichevych, O.1, Burkhardt, U.1, Schmidt, M.1, König, M.1, Poeppelmeier, K.2, Mackenzie, A. P.1, Svanidze, E.1, Grin, Yu.1, grin@cpfs.mpg.de |
| Source: | Angewandte Chemie; 6/26/2020, Vol. 132 Issue 27, p11230-11235, 6p |
| Database: | Applied Science & Technology Source |
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| ISSN: | 00448249 |
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| DOI: | 10.1002/ange.202002693 |
