Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido.
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| Title: | Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido. |
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| Authors: | González Ríos, Jorge L.1 jorgeluis.gr@electrica.cujae.edu.cu, Cruz Hurtado, Juan C.2 juankacruzhurtado@gmail.com, Moreno, Robson L.3 moreno@unifei.edu.br, Vázquez, Diego4 dgarcia@imse-cnm.csic.es |
| Source: | Ingeniería Electrónica: Automatica y Comunicaciones. ene-abr2016, Vol. 37 Issue 1, p1-8. 8p. |
| Database: | Academic Search Ultimate |
| ISSN: | 02585944 |
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