Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración.
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| Title: | Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración. |
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| Source: | Ingeniería Electrónica: Automatica y Comunicaciones. 2002, Vol. 23 Issue 3, p55-57. 3p. |
| Database: | Academic Search Ultimate |
| ISSN: | 02585944 |
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