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Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración.

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Title: Diagnóstico de los circuitos integrados digitales y métodos para probar los circuitos de alta y muy alta escala de integración.
Source: Ingeniería Electrónica: Automatica y Comunicaciones. 2002, Vol. 23 Issue 3, p55-57. 3p.
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