| Authors: |
Wang D; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Pierron T; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Barre E; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Pons S; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Roditchev D; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., D'angelo M; Sorbonne Université, Institut de NanoScience de Paris (INSP), F-75005 Paris, France., Debontridder F; Sorbonne Université, Institut de NanoScience de Paris (INSP), F-75005 Paris, France., Hervé M; Sorbonne Université, Institut de NanoScience de Paris (INSP), F-75005 Paris, France., Cren T; Sorbonne Université, Institut de NanoScience de Paris (INSP), F-75005 Paris, France., Menil C; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Fauqué B; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France.; JEIP (USR 3573 CNRS), Collège de France Université Paris Sciences et Lettres, 75005 Paris, France., Bergeal N; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France., Vlaic S; Laboratoire de Physique et d'Étude des Matériaux (LPEM), ESPCI Paris, Université PSL, CNRS UMR8213, Sorbonne University, 75005 Paris, France. |